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Elettricità statica

Elettricità statica e rugosità superficiale nelle pellicole: Un esperimento

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Images captured using Raman spectroscopy

How UIS2 Optics Have Improved Raman Spectroscopy

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Valutazione delle condizioni di una pala di turbina eolica di fibre di carbonio rinforzate mediante i controlli a ultrasuoni

Ispezione di materiali compositi FRP con modalità innovative per superare i limiti degli NDT a ultrasuoni

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Example of an AIM simulation on a pipe wall using a probe and wedge and TT TFM wave set on a planar reflector

Abbiamo migliorato la nostra AIM! Scopri 3 modi in cui è migliorata la Mappatura dell'influenza acustica nell'MXU 5.10

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Manutenzione dei data center mediante i videoscopi industriali

Manutenzione dei data center: Suggerimenti per scegliere gli ottimali strumenti di ispezione videoscopica

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Microscopio a realtà aumentata per gli assemblaggi elettronici

Tre modi attraverso i quali i microscopi a realtà aumentata accelerano le operazioni dei processi produttivi

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Schermata che illustra l'imaging della coerenza di fase su un rilevatore di difetti OmniScan X3 64

Vantaggi dell'Imaging della coerenza di fase (PCI) per le applicazioni

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Non è un gioco da bambini: Maggiore sicurezza dei prodotti per l'infanzia mediante i microscopi digitali

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L'Imaging della coerenza di fase (PCI - phase coherence imaging) nello strumento Olympus OmniScan X3 64 con phased array (PA) e metodo a focalizzazione totale (TFM)

I cinque principali vantaggi dell'Imaging della coerenza di fase (PCI)

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Immagine ravvicinata di un circuito stampato.

Vantaggi dei microscopi laser per misurare la rugosità di fogli di rame usati in circuiti stampati per 5G

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Forni per cemento

Trattamento dei rifiuti solidi nei forni per cemento mediante gli analizzatori XRF portatili

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Mud logging

Prospezione geologica e Mud Logging: Un approccio più veloce mediante gli analizzatori XRF portatili

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